恒溫恒濕試驗箱半導體環境穩定性測試儀器

恒溫恒濕試驗箱半導體環境穩定性測試儀器專為半導體環境穩定性測試定制，機身采用冷軋鋼板加環氧樹脂噴涂工藝，耐化學腐蝕且抗沖擊；內膽選用 316L 不銹鋼，避免金屬離子污染半導體樣品。控溫范圍 - 50℃~180℃，控濕范圍 10% RH~98% RH，溫度均勻度 ±0.3℃，濕度均勻度 ±1.5% RH，遠超普通設備精度標準。

產品型號：SMB-80PF
廠商性質：生產廠家
更新時間：2026-01-01
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詳細介紹

恒溫恒濕試驗箱半導體環境穩定性測試儀器

一、產品詳情

本恒溫恒濕試驗箱專為半導體環境穩定性測試定制，機身采用冷軋鋼板加環氧樹脂噴涂工藝，耐化學腐蝕且抗沖擊；內膽選用 316L 不銹鋼，避免金屬離子污染半導體樣品。控溫范圍 - 50℃~180℃，控濕范圍 10% RH~98% RH，溫度均勻度 ±0.3℃，濕度均勻度 ±1.5% RH，遠超普通設備精度標準。配備 10.1 英寸工業觸控屏，支持中英文切換，可存儲 100 組試驗程序，內置 USB 接口與以太網模塊，方便數據導出與遠程監控，滿足半導體行業嚴苛的測試數據追溯需求。

二、用途

主要用于模擬半導體芯片、晶圓、封裝器件在不同溫濕度環境下的工作狀態，檢測其電氣性能、穩定性、壽命及可靠性，如高溫高濕下的漏電率變化、低溫環境中的信號傳輸穩定性等。通過模擬環境，提前排查半導體產品在實際應用中的潛在故障，為半導體設計、生產及質檢環節提供數據支撐，保障半導體器件在消費電子、工業控制、汽車電子等領域的穩定運行。

恒溫恒濕試驗箱半導體環境穩定性測試儀器

三、技術特點

采用雙級壓縮制冷系統，搭配進口丹佛斯壓縮機，快速降溫且低溫運行穩定，滿足半導體低溫測試需求；

濕度控制采用超聲波加濕與電解除濕組合技術，加濕速率快、除濕精度高，避免濕度驟變損傷半導體；

配備高精度鉑電阻溫度傳感器與電容式濕度傳感器，采樣頻率達 1 次 / 秒，確保溫濕度數據實時精準；

支持 “溫濕度 - 時間" 曲線動態顯示，可實時觀察試驗過程中參數變化，便于分析半導體性能波動。

四、應用領域

廣泛應用于半導體產業鏈，包括芯片設計公司的性能驗證、晶圓制造廠的環境可靠性測試、封裝測試廠的成品檢測；也適用于消費電子（如手機芯片）、工業自動化（如控制芯片）、新能源汽車（如車規級半導體）、航空航天（如高可靠性芯片）等領域，助力各行業半導體器件質量管控。

五、產品特點

高精度控溫控濕，符合半導體行業 AEC-Q100、JEDEC 等國際測試標準；

內膽設計，搭配防靜電處理，避免靜電擊穿半導體敏感元件；

具備故障自診斷功能，可實時監測壓縮機、風機、傳感器等部件狀態，及時報警；

節能降噪設計，采用變頻風機與高效保溫材料，降低運行能耗與噪音，適配實驗室環境。

六、風道系統

采用 “上出風 - 側回風 - 下循環" 三維風道結構，箱內配備多組導流風葉與變頻風機，可精準控制風速（0.5-2m/s 可調），確保氣流均勻覆蓋半導體樣品表面，避免局部溫濕度偏差影響測試結果；同時風道內置高效過濾器，可過濾空氣中的粉塵顆粒（過濾精度達 0.3μm），防止污染物附著半導體表面，保障測試環境潔凈度。

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